GJB 150.7-86　軍用設備環(huán)境試驗方法 太陽輻射試驗
GB 4797.4-1989 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 太陽輻射與溫度
GB/T 2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Sa：模擬地面上的太陽輻射
GB/T 12085.17-2022 光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第17部分：污染、太陽輻射綜合試驗
GB/T 12085.9-2022  光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第9部分：太陽輻射與風化
CB 1146.16-1996 艦船設備環(huán)境試驗與工程導則 太陽輻射
GJB150.7A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第7部分:太陽輻射試驗
GB/T 3681.1-2021 塑料 太陽輻射暴露試驗方法 第1部分：總則
GB/T2423.24-2022 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗S:模擬地面上的太陽輻射及太陽輻射試驗和氣候老化試驗導則

太陽輻射試驗，也叫日照試驗，用于確定產(chǎn)品在日光照射（戶外無遮蔽）環(huán)境下工作、儲存的適應性。試驗的嚴苛程度取決于溫度和曝露持續(xù)時間。 太陽輻射能在可見光線（0.4～0.76μm）、紅外線（＞0.76μm）和紫外線（＜0.4μm）分別占50％、43％和7％，集中于短波波段，所以將太陽輻射稱為短波輻射。
太陽輻射試驗（氙燈暴露試驗、碳弧燈暴露試驗、鹵素燈暴露試驗）加熱效應主要是由太陽輻射能中紅外光譜部分產(chǎn)生的,主要引起產(chǎn)品短時高溫和局部過熱,造成一些對溫度敏感的元器件失效,結構材料的機械破壞和絕緣材料的過熱損壞等。

日照試驗，也叫太陽輻射試驗，是評定戶外無遮蔽使用和儲存的設備經(jīng)受太陽輻射熱和光學效應的能力，是一項對暴露在陽光下的產(chǎn)品及其制造材料進行的試驗。

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