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紅外探測器機械環(huán)境試驗

健明迪檢測提供的紅外探測器機械環(huán)境試驗,試驗項目 正弦振動試驗、寬帶隨機振動試驗、沖擊試驗、碰撞試驗、恒定加速度試驗、引出端及整體安裝件強度試驗試驗背景 機械環(huán)境試驗也稱為力學環(huán)境試驗,具有CMA,CNAS資質。
紅外探測器機械環(huán)境試驗
試驗項目
正弦振動試驗、寬帶隨機振動試驗、沖擊試驗、碰撞試驗、恒定加速度試驗、引出端及整體安裝件強度試驗
試驗背景
機械環(huán)境試驗也稱為力學環(huán)境試驗,是為了保證產品在規(guī)定的壽命期間,在預期的使用、運輸、流通環(huán)境條件下,保持功能可靠性而進行的活動。紅外探測器機械環(huán)境試驗其特點表現為以力作用為突出特征,考核、評價產品在力作用下的功能可靠性、結構完好性。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種紅外探測器的環(huán)境試驗能力,為紅外探測器產品提供專業(yè)的正弦振動試驗、寬帶隨機振動試驗、沖擊試驗、碰撞試驗、等機械環(huán)境試驗服務。
紅外探測器機械環(huán)境試驗機構
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種紅外探測器的環(huán)境試驗能力,為紅外探測器產品提供專業(yè)的正弦振動試驗、寬帶隨機振動試驗、沖擊試驗、碰撞試驗、等機械環(huán)境試驗服務。
試驗標準
GB/T 15430-1995 紅外探測器環(huán)境試驗方法
GB/T 2424.26-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第3部分:支持文件和導則 振動試驗選擇
GB/T 2423.58-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fi:振動 混合模式
GB/T 2423.59-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合
GB/T 2423.57-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2-81部分:試驗方法 試驗Ei:沖擊 沖擊響應譜合成
GB/T 4937 半導體器件機械和氣候試驗方法 手持電子產品用元器件桌面跌落試驗方法
試驗目的
1、確定紅外探測器在運輸、使用過程中可能受到的正弦振動的適應性和評價結構完好性。
2、確定紅外探測器經受隨機振動環(huán)境應力的適應性及評價結構完好性。
3、確定紅外探測器在使用過程中承受非重復機械沖擊作用的適應性以及(或)評定其結構的完整性。
4、確定探測器在使用和運輸過程中承受多次重復性機械碰撞的適應性以及評定其結構完好性。
5、確定紅外探測器經受恒定加速度環(huán)境應力的適應性及評價其結構完好性。
6、確定引出端以及引出端與試驗樣品本體的連接及其整體安裝件經受裝配或修理過程中可能遇到的轉矩的能力。
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