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紅外探測(cè)器溫度環(huán)境試驗(yàn)

健明迪檢測(cè)提供的紅外探測(cè)器溫度環(huán)境試驗(yàn),高溫試驗(yàn) 試驗(yàn)?zāi)康模捍_定紅外探測(cè)器在高溫環(huán)境條件下使用、貯存及運(yùn)輸?shù)倪m應(yīng)性,具有CMA,CNAS資質(zhì)。
紅外探測(cè)器溫度環(huán)境試驗(yàn)
高溫試驗(yàn)
試驗(yàn)?zāi)康模捍_定紅外探測(cè)器在高溫環(huán)境條件下使用、貯存及運(yùn)輸?shù)倪m應(yīng)性。
試驗(yàn)方法:高溫貯存試驗(yàn)、高溫工作性能試驗(yàn)、溫度突變?cè)囼?yàn)、溫度漸變?cè)囼?yàn)
試驗(yàn)背景
溫度影響引起裝備的故障占各種環(huán)境因素引起故障的40%,因此研究溫度對(duì)產(chǎn)品(裝備)的影響尤其重要。
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種紅外探測(cè)器的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰?,為紅外探測(cè)器產(chǎn)品提供專(zhuān)業(yè)的低溫試驗(yàn)、高溫試驗(yàn)、溫度變化試驗(yàn)等環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 15430-1995 紅外探測(cè)器環(huán)境試驗(yàn)方法
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化
紅外探測(cè)器溫度環(huán)境試驗(yàn)機(jī)構(gòu)
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種紅外探測(cè)器的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰?,為紅外探測(cè)器產(chǎn)品提供專(zhuān)業(yè)的低溫試驗(yàn)、高溫試驗(yàn)、溫度變化試驗(yàn)等環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。
溫度變化試驗(yàn)
試驗(yàn)?zāi)康模菏乖囼?yàn)樣品通過(guò)在高低溫環(huán)境的交替暴露中,經(jīng)受氣溫迅速變化的影響,以確定其對(duì)貯存運(yùn)輸期間可能遇到的溫度變化的適應(yīng)性。
試驗(yàn)方法:具有規(guī)定轉(zhuǎn)換時(shí)間的溫度變化試驗(yàn)、具有規(guī)定溫度變化率的溫度變化試驗(yàn)。
低溫試驗(yàn)
試驗(yàn)?zāi)康模捍_定紅外探測(cè)器在低溫環(huán)境條件下使用、貯存及運(yùn)輸?shù)倪m應(yīng)性。
試驗(yàn)方法:低溫貯存試驗(yàn)、低溫工作性能試驗(yàn)、溫度突變?cè)囼?yàn)、溫度漸變?cè)囼?yàn)
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