試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10263-2006 核輻射探測(cè)器環(huán)境條件與試驗(yàn)方法
GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試程 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)M:低氣壓
GB/T 2423.63-2019 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn):溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(混合模式)綜合
GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn):溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合
試驗(yàn)背景
氣壓試驗(yàn)分為高氣壓試驗(yàn)和低氣壓試驗(yàn),用來(lái)確定探測(cè)器在低氣壓或高氣壓下使用的適應(yīng)性。核輻射探測(cè)器過(guò)高或過(guò)低氣壓環(huán)境中,產(chǎn)品的性能容易出現(xiàn)下降或運(yùn)行不穩(wěn)定等現(xiàn)象。
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種核輻射探測(cè)器的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰?,為核輻射探測(cè)器產(chǎn)品提供專(zhuān)業(yè)的低氣壓試驗(yàn)、高氣壓試驗(yàn)等環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。
核輻射探測(cè)器高低氣壓試驗(yàn)機(jī)構(gòu)
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種核輻射探測(cè)器的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰?,為核輻射探測(cè)器產(chǎn)品提供專(zhuān)業(yè)的低氣壓試驗(yàn)、高氣壓試驗(yàn)等環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。
試驗(yàn)方法
低氣壓試驗(yàn):
試驗(yàn)時(shí),試驗(yàn)樣品處于非工作狀態(tài)。將經(jīng)過(guò)預(yù)處理的試驗(yàn)樣品放入正常大氣條件下的試驗(yàn)箱內(nèi),然后將試驗(yàn)箱內(nèi)的氣壓降至規(guī)定的氣壓值,在該條件下暴露規(guī)定的持續(xù)時(shí)間。 本試驗(yàn)氣壓調(diào)節(jié)的平均速率不宜超過(guò)10 kPa/ min 。
高氣壓試驗(yàn):
試驗(yàn)時(shí),試驗(yàn)樣品處于非工作狀態(tài)。將經(jīng)過(guò)預(yù)處理的試驗(yàn)樣品放入正常大氣條件下的試驗(yàn)箱內(nèi),然后將試驗(yàn)箱內(nèi)的氣壓以規(guī)定的平均速率升至規(guī)定的氣壓值,在該條件下暴露規(guī)定的持續(xù)時(shí)間。