試驗目的：確定探測器高溫貯存和使用的適應性。
試驗方法： 將經過預處理的試驗樣品放入溫度為室溫的試驗箱內，然后將試驗箱內的溫度以規(guī)定的速率調到規(guī)定值。
待試驗樣品溫度穩(wěn)定后，在該條件下暴露規(guī)定的持續(xù)時間。
溫度穩(wěn)定時間由產品標準在0.5 h~16 h的范圍內選取。 試驗過程中試驗樣品可處于工作狀態(tài)（高溫使用）或不處于工作狀態(tài)（例如高溫貯存）。

核輻射探測器使用一段時間后，其性能保持不變的能力稱為穩(wěn)定性。影響核輻射探測器長期穩(wěn)定性的因素除其本身結構外，主要是使用環(huán)境。因此，要使傳感器具有良好的穩(wěn)定性，必須要有較強的環(huán)境適應能力。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種核輻射探測器的環(huán)境試驗能力，為探測器產品提供專業(yè)的高溫試驗、低溫試驗、恒定濕熱試驗、溫度變化試驗等環(huán)境試驗服務。

試驗目的：確定探測器對周圍溫度快速變化的耐受能力、適應性和工作能力。
試驗方法：
a）規(guī)定溫度變化速率的試驗：將處于工作狀態(tài)或非工作狀態(tài)的試驗樣品放入試驗箱，并以一定速率在低溫與高溫之間改變試驗箱內的溫度，使試驗樣品經受溫度的變化，同時進行性能特性檢測。
b）規(guī)定轉移時間的試驗：將試驗樣品交替暴露于低溫和高溫的空氣（或合適的保護氣體）中，使其經受溫度快速變化的影響。

健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種核輻射探測器的環(huán)境試驗能力，為探測器產品提供專業(yè)的高溫試驗、低溫試驗、恒定濕熱試驗、溫度變化試驗等環(huán)境試驗服務。

GB/T 10263-2006 核輻射探測器環(huán)境條件與試驗方法
GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
GB/T 2424.15-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 溫度/低氣壓綜合試驗導則
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化
GB/T 2423.27-2020 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗方法和導則：溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.34-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗

試驗目的：確定探測器在高相對濕度條件下貯存和使用的適應性。
試驗方法： 將經過預處理的試驗樣品放入正常大氣條件的試驗箱內，并將試驗箱內的溫度和相對濕度調到規(guī)定值，在該條件下暴露規(guī)定的持續(xù)時間。
對試驗加濕的要求如下：
a）不斷排出試驗箱內的冷凝水，排出的冷凝水在純化處理前不再用作產生潮濕的水；
b）箱頂和箱壁的冷凝水不要滴落在試驗樣品上。

試驗目的：確定探測器低溫貯存和使用的適應性。
試驗方法： 將經過預處理的試驗樣品放入溫度為室溫的試驗箱內，然后將試驗箱內的溫度調到規(guī)定值。待試驗樣品溫度穩(wěn)定后，在該條件下暴露規(guī)定的持續(xù)時間。
溫度穩(wěn)定時間可從0.5 h~16 h的范圍內選取。 試驗過程中試驗樣品可處于工作狀態(tài)（低溫使用）或不處于工作狀態(tài)（例如低溫貯存）。