試樣各部分都應達到試驗箱（室）溫度3K以內(nèi)才開始試驗。對于散熱型試樣，在溫度穩(wěn)定的試驗箱（室）內(nèi)試樣的溫度變化在每小時不超過1K時作為開始（或終止）暴露周期的時間，試樣溫度達到穩(wěn)定的最后1h作為暴露周期的最初1 h。
包括：寬帶隨機振動與高溫綜合試驗、寬帶隨機振動與低溫綜合試驗 試樣置于試驗溫度下的暴露時間取決于試樣的熱性能和振動所要求的時間，當試樣需要沿另一軸線振動，允許試樣在環(huán)境溫度和試驗溫度之間的任意溫度值上重新安置，但不得出現(xiàn)凝露、霜或冰。

光學和光子學儀器寬帶隨機振動與高低溫綜合試驗目的是研究試樣的光學、熱學、化學和電氣等性能受到寬帶隨機振動（數(shù)字控制）與高溫、低溫影響時的變化程度。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種光學和光子學儀器的環(huán)境試驗能力，為光學和光子學儀器產(chǎn)品提供專業(yè)的寬帶隨機振動與高低溫綜合試驗等環(huán)境試驗服務。

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GB/T 12085.1-2022 光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第1部分：術語、試驗范圍
ISO 9022-15光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第15部分：寬帶隨機振動（數(shù)字控制）與高溫、低溫綜合試驗
GB/T 12085.15-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第15部分：寬帶隨機振動（數(shù)字控制）與高溫、低溫綜合試驗
GB/T 12085.2-2022 光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱
GB/T 12085.3-2022 光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第3部分：機械作用力
KS B ISO 9022-15光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第15部分：寬帶隨機振動（數(shù)字控制）與高溫、低溫綜合試驗
BS ISO 9022-15光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第15部分：寬帶隨機振動（數(shù)字控制）與高溫、低溫綜合試驗

所有光學和光子學儀器包括來自其他領域附屬組件（如機械、化學和電子設備）