試樣各部分都應(yīng)達(dá)到試驗(yàn)箱（室）溫度3K以內(nèi)才開(kāi)始試驗(yàn)。對(duì)于散熱型試樣，在溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)箱（室）內(nèi)試樣的溫度變化在每小時(shí)不超過(guò)1K時(shí)作為開(kāi)始（或終止）暴露周期的時(shí)間，試樣溫度達(dá)到穩(wěn)定的最后1h作為暴露周期的最初1 h。
包括：沖擊與高溫綜合試驗(yàn)、碰撞與高溫綜合試驗(yàn)、沖擊與低溫綜合試驗(yàn)、碰撞與低溫綜合試驗(yàn)、自由跌落與高溫綜合試驗(yàn)、自由跌落與低溫綜合試驗(yàn)

光學(xué)和光子學(xué)儀器沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、力學(xué)、化學(xué)和電學(xué)性能受到?jīng)_擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫影響變化的程度。
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種光學(xué)和光子學(xué)儀器的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰?，為光學(xué)和光子學(xué)儀器產(chǎn)品提供專業(yè)的沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗(yàn)等綜合環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。

健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種光學(xué)和光子學(xué)儀器的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸楣鈱W(xué)和光子學(xué)儀器產(chǎn)品提供專業(yè)的沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗(yàn)等綜合環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。

GB/T 12085.1-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第1部分：術(shù)語(yǔ)、試驗(yàn)范圍
ISO 9022-13光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗(yàn)
GB/T 12085.13-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗(yàn)
DIN ISO 9022-13光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗(yàn)
BS ISO 9022-13光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.43 電工電子產(chǎn)品 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 振動(dòng)、沖擊和類似動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)樣品的安裝
GB/T 12085.1光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第1部分：術(shù)語(yǔ)、試驗(yàn)范圍
GB/T12085.2光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱
GB/T 12085.3光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：機(jī)械作用力
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫

所有光學(xué)和光子學(xué)儀器包括來(lái)自其他領(lǐng)域附屬組件（如機(jī)械、化學(xué)和電子設(shè)備）