機(jī)載設(shè)備溫度試驗(yàn)
健明迪檢測提供的機(jī)載設(shè)備溫度試驗(yàn)，試驗(yàn)溫度 試驗(yàn)溫度包括地面高、低溫耐受溫度；高、低溫工作溫度；高、低溫短時工作溫度；飛行冷卻能力損失試驗(yàn)溫度，具有CMA，CNAS資質(zhì)。
試驗(yàn)溫度
試驗(yàn)溫度包括地面高、低溫耐受溫度；高、低溫工作溫度；高、低溫短時工作溫度；飛行冷卻能力損失試驗(yàn)溫度。
地面耐受溫度取決于飛機(jī)在地面機(jī)場停放中遇到的極端高、低溫環(huán)境溫度，即取決于飛機(jī)使用的地域范圍；
工作溫度取決于機(jī)載設(shè)備預(yù)期安裝飛機(jī)的種類及其在機(jī)上的位置； 短時工作溫度取決于耐受溫度； 飛行冷卻能力損失試驗(yàn)溫度取決于具體設(shè)備的設(shè)計(jì)。
地面耐受溫度取決于飛機(jī)在地面機(jī)場停放中遇到的極端高、低溫環(huán)境溫度，即取決于飛機(jī)使用的地域范圍；
工作溫度取決于機(jī)載設(shè)備預(yù)期安裝飛機(jī)的種類及其在機(jī)上的位置； 短時工作溫度取決于耐受溫度； 飛行冷卻能力損失試驗(yàn)溫度取決于具體設(shè)備的設(shè)計(jì)。
試驗(yàn)背景
飛機(jī)機(jī)載設(shè)備溫度試驗(yàn)?zāi)康氖谴_定機(jī)載設(shè)備對飛機(jī)停機(jī)貯存和使用中遇到的溫度環(huán)境的適應(yīng)性。關(guān)鍵設(shè)備在飛機(jī)飛行過程中若出現(xiàn)冷卻能力損失，造成其功能失效將構(gòu)成或引起妨礙飛機(jī)繼續(xù)安全飛行和著陸等故障。
健明迪檢測可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種飛機(jī)機(jī)載設(shè)備的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰?，為飛機(jī)機(jī)載設(shè)備提供專業(yè)的溫度試驗(yàn)、砂塵試驗(yàn)、霉菌試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)等環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。
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機(jī)載設(shè)備溫度試驗(yàn)機(jī)構(gòu)
健明迪檢測可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種飛機(jī)機(jī)載設(shè)備的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰?，為飛機(jī)機(jī)載設(shè)備提供專業(yè)的溫度試驗(yàn)、砂塵試驗(yàn)、霉菌試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)等環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
HB 6167.2-2014 民用飛機(jī)機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗(yàn)方法 第2部分：溫度和高度試驗(yàn)
HB 6167.1-2014 民用飛機(jī)機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗(yàn)方法 第1部分：總則
GB/T 4937.11-2018 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第11部分:快速溫度變化 雙液槽法
EN 60749-5-2003 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第5部分：穩(wěn)態(tài)溫度濕度偏差壽命試驗(yàn)
GB/T 4937.11-2018 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第11部分：快速溫度變化 雙液槽法
DZ 0039.2-1992 地質(zhì)儀器產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)條件及方法 溫度試驗(yàn)
GB/T 2424.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化
GB/T 2423.27-2020 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)方法和導(dǎo)則:溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.34-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)
GB/T 2423.59-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機(jī))綜合
GB/T 2423.63-2019 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(混合模式)綜合
GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn):溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合
IEC60068-2-14-2009環(huán)境試驗(yàn)第2-14部分：試驗(yàn)試驗(yàn)N：溫度變化
HB 6167.1-2014 民用飛機(jī)機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗(yàn)方法 第1部分：總則
GB/T 4937.11-2018 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第11部分:快速溫度變化 雙液槽法
EN 60749-5-2003 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第5部分：穩(wěn)態(tài)溫度濕度偏差壽命試驗(yàn)
GB/T 4937.11-2018 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第11部分：快速溫度變化 雙液槽法
DZ 0039.2-1992 地質(zhì)儀器產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)條件及方法 溫度試驗(yàn)
GB/T 2424.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化
GB/T 2423.27-2020 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)方法和導(dǎo)則:溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.34-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)
GB/T 2423.59-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機(jī))綜合
GB/T 2423.63-2019 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(混合模式)綜合
GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn):溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合
IEC60068-2-14-2009環(huán)境試驗(yàn)第2-14部分：試驗(yàn)試驗(yàn)N：溫度變化
試驗(yàn)類型
溫度試驗(yàn)共分4大類，具體包括：
a）耐受試驗(yàn)：耐受試驗(yàn)共分2類，即地面高溫耐受試驗(yàn)和地面低溫耐受試驗(yàn)。
b）工作試驗(yàn)：工作試驗(yàn)共分2類，即高溫工作試驗(yàn)和低溫工作試驗(yàn)。
c）短時工作試驗(yàn)：短時工作試驗(yàn)共分2類，即高溫短時工作試驗(yàn)和低溫短時工作試驗(yàn)。若工作試驗(yàn)溫度與短時工作試驗(yàn)溫度相同，短時工作試驗(yàn)可不需考核。
d）飛行冷卻能力損失試驗(yàn)，適用于高溫工作期間為保證正常工作需要冷卻的設(shè)備，設(shè)備冷卻由外部提供或供電。
a）耐受試驗(yàn)：耐受試驗(yàn)共分2類，即地面高溫耐受試驗(yàn)和地面低溫耐受試驗(yàn)。
b）工作試驗(yàn)：工作試驗(yàn)共分2類，即高溫工作試驗(yàn)和低溫工作試驗(yàn)。
c）短時工作試驗(yàn)：短時工作試驗(yàn)共分2類，即高溫短時工作試驗(yàn)和低溫短時工作試驗(yàn)。若工作試驗(yàn)溫度與短時工作試驗(yàn)溫度相同，短時工作試驗(yàn)可不需考核。
d）飛行冷卻能力損失試驗(yàn)，適用于高溫工作期間為保證正常工作需要冷卻的設(shè)備，設(shè)備冷卻由外部提供或供電。
