試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2424.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T 2423.27-2020 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)方法和導(dǎo)則:溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.34-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)
GB/T 2423.59-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(隨機(jī))綜合
GB/T 2423.63-2019 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn):溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(混合模式)綜合
GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn):溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合
IEC60068-3-2:1976基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第3部分:背景資料第2節(jié):溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)
IEC 60068-2-38: 2009(第2版) 環(huán)境試驗(yàn)第2-38部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)
試驗(yàn)背景
電子電工產(chǎn)品綜合環(huán)境試驗(yàn)就是在經(jīng)濟(jì)和技術(shù)條件允許的情況下,盡可能在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)再現(xiàn)產(chǎn)品在實(shí)際儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用條件下所經(jīng)歷的各種環(huán)境及其變化情況。
常用的綜合環(huán)境試驗(yàn)主要有溫度與低氣壓綜合試驗(yàn),溫度與機(jī)械環(huán)境綜合試驗(yàn)和溫度、濕度與機(jī)械環(huán)境綜合試驗(yàn)。
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰?,為電工電子產(chǎn)品提供專業(yè)的綜合環(huán)境服務(wù)。
電工電子產(chǎn)品綜合環(huán)境試驗(yàn)機(jī)構(gòu)
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸殡姽る娮赢a(chǎn)品提供專業(yè)的綜合環(huán)境服務(wù)。
試驗(yàn)方法
1、溫度/低氣壓綜合試驗(yàn):低溫低氣壓試驗(yàn)、高溫低氣壓試驗(yàn)
2、溫度/低氣壓/低氣壓綜合試驗(yàn)
3、溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)
4、溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(隨機(jī))綜合試驗(yàn)
5、溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(混合模式)綜合試驗(yàn)
6、溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)