試驗方法1
經(jīng)過28d培養(yǎng)以后，確定：
1）外觀檢查確定霉菌生長程度；
2）長霉引起的物理損傷；
3）長霉條件下對功能和/或電性能的影響，如果相關規(guī)范中有要求。
如果相關規(guī)范要求檢查功能和/或測量電性能，培養(yǎng)期應延長至56 d。
試驗方法2
用營養(yǎng)液對樣品預處理后，進行為期28 d的培養(yǎng)，確定：
1）外觀檢查確定霉菌生長程度；
2）長霉引起的物理損傷；
3）長霉條件下對功能和/或電性能的影響，如果相關規(guī)范中有要求。 通過使用營養(yǎng)液來模擬污染未長霉的樣品，會降低樣品表面的防霉性能。
如果檢查功能和/或測量電氣性能，應當考慮該影響。 使用營養(yǎng)液就會發(fā)生長霉；如果沒有長霉，應當考慮防霉劑的影響。

電子電工產(chǎn)品長霉會造成產(chǎn)品結(jié)構(gòu)破壞和性能下降， 產(chǎn)品故障甚至損壞，比如導線絕緣層迅速老化、橡膠脆化、密封圈失效、元器件的短路燒毀、絕緣性能失效、金屬光澤變暗發(fā)花、光學鏡頭的模糊等。
總之，電子電器產(chǎn)品長霉的后果是非常嚴重的，輕則影響產(chǎn)品質(zhì)量和外觀，嚴重的話還會導致產(chǎn)品失效甚至引發(fā)重大質(zhì)量事故。 電子電工產(chǎn)品長霉試驗可確定電子產(chǎn)品上長霉程度和長霉對產(chǎn)品特性及其他相關性能影響。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗能力，為電工電子產(chǎn)品提供專業(yè)的長霉試驗服務。

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GB/T 2423.16-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J及導則：長霉
IEC 60068-2-10：2005 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J及導則：長霉
GB/T27025-2008檢測和校準實驗室能力的通用要求
ISO 846：1997塑料-微生物作用評價
MIL-STD-810 F：2000方法 508.5真菌

首先用肉眼檢查樣品，若有必要可用立體顯微鏡放大50倍左右進行檢查。按下述等級評定和描述長霉程度：
0級：在放大50倍下，沒有發(fā)現(xiàn)明顯長霉。
1級：顯微鏡下看到長霉痕跡。
2a級：肉眼看到稀疏長霉或者顯微鏡下看到分散、局部長霉，長霉面積不超過測試面積的5%。
2b級：肉眼明顯看到很多地方或多或少均勻長霉，長霉面積不超過測試面積的25%。
3級：肉眼明顯看到長霉，長霉面積超過了測試面積的25%。