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電子元器件及設(shè)備綜合環(huán)境試驗(yàn):溫度、濕度和振動(dòng)綜合試驗(yàn)

公司簡(jiǎn)介
健明迪檢測(cè)提供的電子元器件及設(shè)備綜合環(huán)境試驗(yàn):溫度、濕度和振動(dòng)綜合試驗(yàn),溫度、濕度和振動(dòng)綜合試驗(yàn) 1、目的 確定電子產(chǎn)品在溫度、濕度和振動(dòng)的條件下的使用性和儲(chǔ)存性 2、影響原理 首先,由于摩擦力的減少而使摩擦阻尼降低,其次,當(dāng)濕氣進(jìn),具有CMA,CNAS認(rèn)證資質(zhì)。
溫度、濕度和振動(dòng)綜合試驗(yàn)

1、目的
確定電子產(chǎn)品在溫度、濕度和振動(dòng)的條件下的使用性和儲(chǔ)存性

2、影響原理
首先, 由于摩擦力的減少而使摩擦阻尼降低, 其次, 當(dāng)濕氣進(jìn)人連接處時(shí), 由于膨脹系數(shù)不同, 在高溫處將引起連接分離。
另外, 由于連接處摩擦系數(shù)的嚴(yán)重減小, 使得對(duì)特定振動(dòng)的響應(yīng)增加。有人觀測(cè)到由于連接處表面變濕, 其表面狀態(tài)的振動(dòng)響應(yīng)增加兩倍。
在連續(xù)的高溫和振動(dòng)情況, 若再加上潮濕, 不但可以使腐蝕和疲勞加速, 而且還使金屬脆裂或損壞。
一般認(rèn)為, 只是振動(dòng)引起疲芳, 現(xiàn)在看來(lái)在綜合環(huán)境下, 溫度的增加將使疲勞壽命降低, 而濕度則因造成表面腐蝕也降低疲勞壽命。

溫、濕度和振動(dòng)試驗(yàn)方法還有一個(gè)重要功能, 就是應(yīng)用于電子產(chǎn)品環(huán)境高效應(yīng)力篩選,盡早激發(fā)出因元器件和工藝缺陷造成故障, 以保證產(chǎn)品在使用中的可靠性。

但是, 溫、濕度和振動(dòng)綜合環(huán)境試驗(yàn)和高效應(yīng)力篩選的區(qū)別在于, 前者是考核電子產(chǎn)品在模擬實(shí)際環(huán)境中的性能, 后者是誘導(dǎo)出組裝整機(jī)前的零、部件所存在的各種隱患,

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高(低)溫和低氣壓綜合試驗(yàn)

1、目的
穩(wěn)定在實(shí)際使用高溫(或低溫)和低氣壓變化條件下電子產(chǎn)品的使用適應(yīng)能力

2、影響原理
由于空氣的介電性質(zhì)隨氣壓和溫度而變,電子產(chǎn)品的功能或安全特性也將發(fā)生改變。在低氣壓條件下,特別是伴隨高溫條件下時(shí),由于空氣介電強(qiáng)度顯著降低,導(dǎo)致電弧、表面放電或電暈放電的危險(xiǎn)增加。
低溫或高溫所產(chǎn)生的材料特性會(huì)增加密封設(shè)備或密封件在低壓時(shí)的變形和開(kāi)裂危險(xiǎn),增加了漏氣和卡死的可能性,還會(huì)使增塑劑和塑料分解產(chǎn)物揮發(fā),造就電子產(chǎn)品各個(gè)零部件的機(jī)械和電氣特性變化

什么是綜合環(huán)境試驗(yàn)?

綜合環(huán)境試驗(yàn)是在經(jīng)濟(jì)和技術(shù)條件允許的情況下,盡可能做到在試驗(yàn)箱(室)內(nèi)再現(xiàn)產(chǎn)品在實(shí)際工作條件下所經(jīng)歷的各種環(huán)境及變化情況。因此,通過(guò)試驗(yàn)后的試件在實(shí)際工作中不再發(fā)生或很少發(fā)生新的失效,從而達(dá)到最高的可靠性。

對(duì)于電子產(chǎn)品,單純的溫度試驗(yàn)主要以熱應(yīng)力的形式造成材料或機(jī)械的損壞,也可印極端的溫度而使靈敏件直接損壞;單純的濕度試驗(yàn)進(jìn)能使部件產(chǎn)生腐蝕和電介質(zhì)變質(zhì);若只有低氣壓條件,則只造成機(jī)械變形,放電和冷焊等效應(yīng)。除了以機(jī)械應(yīng)力出現(xiàn)的拉伸、壓縮和疲勞等外,還有因零件對(duì)加速度、位移或頻率敏感而造成失效。但如果將這幾種環(huán)境條件綜合起來(lái),則除了出現(xiàn)上述的失效形式外,還將發(fā)生一些新的失效形式,也可使原有的失效形式加速。

此處介紹兩種綜合環(huán)境試驗(yàn):溫度和低氣壓綜合試驗(yàn);溫度、濕度和振動(dòng)綜合試驗(yàn)。溫度和低氣壓綜合試驗(yàn)又分為兩種:低溫和低氣壓綜合試驗(yàn),高溫和低氣壓綜合試驗(yàn)。

電子元器件、設(shè)備的環(huán)境條件是指其在儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用過(guò)程中遭受的中環(huán)境因素,考察電子元器件、設(shè)備使用可靠性和生產(chǎn)經(jīng)濟(jì)性所規(guī)定的影響程度的等級(jí)和數(shù)值,是研究設(shè)計(jì)、制造、選用和鑒定驗(yàn)收的依據(jù)。本文帶大家聊聊電子元器件及設(shè)備綜合環(huán)境試驗(yàn)的相關(guān)知識(shí)吧。 電子元器件及設(shè)備綜合環(huán)境試驗(yàn)

電子元器件及設(shè)備綜合環(huán)境試驗(yàn):溫度、濕度和振動(dòng)綜合試驗(yàn)
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