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半導(dǎo)體電子元器件可靠性測(cè)試:溫度試驗(yàn)方法介紹

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健明迪檢測(cè)提供的半導(dǎo)體電子元器件可靠性測(cè)試:溫度試驗(yàn)方法介紹,溫度試驗(yàn)持續(xù)的時(shí)間的確定 在化學(xué)中一條常用的規(guī)律是在高溫下反應(yīng)的速度要快一些。這一規(guī)律被應(yīng)用到技術(shù)中,以便進(jìn)行加速試驗(yàn),這也被稱為阿侖尼斯方程,具有CMA,CNAS認(rèn)證資質(zhì)。
溫度試驗(yàn)持續(xù)的時(shí)間的確定

在化學(xué)中一條常用的規(guī)律是在高溫下反應(yīng)的速度要快一些。 這一規(guī)律被應(yīng)用到技術(shù)中,以便進(jìn)行加速試驗(yàn),這也被稱為阿侖尼斯方程。

阿侖尼斯關(guān)系從數(shù)學(xué)上的表示為:

AF(T)=e^(EA/K)*(1/T實(shí)際– 1/T試驗(yàn)室)
式中數(shù)值:
AF= 加速度系數(shù)
Ea=激活能
K=玻爾茲曼常數(shù)(8.65×10-5ev/K)
T實(shí)際=在實(shí)際負(fù)荷下的溫度(絕對(duì)溫度)
T實(shí)驗(yàn)室=在實(shí)驗(yàn)室負(fù)荷下的溫度(絕對(duì)溫度)
為確定加速度系數(shù)激活能必須是已知的,對(duì)于一般的電子元件經(jīng)常采用的值是:Ea=0.44Ev

在產(chǎn)品不工作時(shí)進(jìn)行的低溫或高溫實(shí)驗(yàn),試驗(yàn)的持續(xù)時(shí)間為試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定后,根據(jù)試驗(yàn)樣品的特點(diǎn)和試驗(yàn)?zāi)康拇_定。也可從下列等級(jí)中選?。?,16,72,96h。t = t穩(wěn)定+ to (to由計(jì)算產(chǎn)生或=2,16,72,96h) 。

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溫度試驗(yàn)區(qū)域中試件的擺放

多個(gè)樣品在同一試驗(yàn)箱進(jìn)行高溫實(shí)驗(yàn)時(shí),應(yīng)保證所有樣品都處在同一環(huán)境溫度下,并具有相同的安裝條件。
對(duì)于散熱樣品而言,各個(gè)試件之間不能因輻射散熱而影響到其它試件,即試件間間隔應(yīng)足夠大,這樣對(duì)于單個(gè)試件來(lái)說(shuō),其他散熱試件輻射到其上的熱量所造成的溫度變化就很小,到可忽略的程度。
對(duì)于非散熱試件,溫度保持不變的高溫或低溫試驗(yàn),試件間的間距可以不做要求,因?yàn)闇囟群愣ê笤嚰臏囟扰c溫度試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度保持一致,不發(fā)生熱量交換,試件間的間距對(duì)試驗(yàn)不會(huì)產(chǎn)生影響。
非散熱試件的溫度變化試驗(yàn)試件間則應(yīng)該保持間隔,使試驗(yàn)件之間有足夠的空氣流動(dòng),加速試件與溫度試驗(yàn)箱之間的熱交換,使試件盡快達(dá)到試驗(yàn)指定的溫度。

溫度試驗(yàn)區(qū)域空氣速度的影響

試驗(yàn)區(qū)域中空氣和試驗(yàn)樣品間的熱交換效率取決于空氣流動(dòng)的速度。
對(duì)于非散熱試件,較高的空氣流動(dòng)速度可以使試件各部分的溫度較快速的達(dá)到周圍空氣的溫度。一般在試驗(yàn)區(qū)域未擺放試件的情況下,空氣流動(dòng)速度應(yīng)不低于2m/s。
對(duì)于散熱試件,試件樣品最熱點(diǎn)的溫度高于周圍環(huán)境溫度時(shí),應(yīng)在無(wú)強(qiáng)迫空氣流動(dòng)(自由空氣條件)的環(huán)境下進(jìn)行試驗(yàn),否則試件的溫度將被降低,從而減小試驗(yàn)的嚴(yán)酷程度。

產(chǎn)品溫度試驗(yàn)要點(diǎn)

對(duì)于目前的產(chǎn)品來(lái)說(shuō),在未工作狀態(tài)產(chǎn)品本身不產(chǎn)生熱量,因此在試件未工作狀態(tài)進(jìn)行的溫度試驗(yàn)都可作為非散熱試件來(lái)處理。
在工作狀態(tài)進(jìn)行溫度試驗(yàn)的產(chǎn)品目前主要有燃油泵,點(diǎn)火線圈,怠速調(diào)節(jié)器等。
這些產(chǎn)品如在工作條件下進(jìn)行溫度試驗(yàn)都應(yīng)作為散熱試件。特別是點(diǎn)火線圈,工作時(shí)的發(fā)熱量較大,應(yīng)對(duì)其上的溫度進(jìn)行監(jiān)測(cè)。

溫度是物質(zhì)內(nèi)部分子(原子,電子)運(yùn)動(dòng)能量(內(nèi)能)的一種外在表征形式,溫度越高表示物質(zhì)內(nèi)部分子無(wú)規(guī)則的運(yùn)動(dòng)越劇烈,兩物體間的溫度相差也越大,在兩物體之間的熱交換量也越多。溫度試驗(yàn)是質(zhì)量與可靠性工程師經(jīng)常開(kāi)展的環(huán)境試驗(yàn),本文帶大家聊聊半導(dǎo)體電子元器件可靠性測(cè)試中溫度試驗(yàn)的相關(guān)知識(shí)吧。 半導(dǎo)體電子元器件可靠性測(cè)試
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