電子電器溫升測試方法
溫升測試方法按照測量溫度儀表的不同,可以分為非接觸式與接觸式兩大類。
1. 非接觸式測量法
非接觸式測量法能測得被測物體外部表現(xiàn)出來的溫度,需要通過對被測問題表面發(fā)射率修正后才能得到真實溫度,而且測量方法受到被測物體與儀表之間的距離以及輻射通道上的水汽、煙霧、塵埃等其他介質(zhì)的影響,因此測量精度較低。
日常我們經(jīng)常用的方法有光譜測溫技術(shù)、全息干涉測溫技術(shù)、基于CCD的三基色測溫技術(shù)。
2. 接觸式測量法
接觸式測溫儀溫度探頭一般有熱電偶和熱電阻兩種:
熱電偶的工作原理是基于塞貝克(seeback效應(yīng)),兩種不同成分的導(dǎo)體兩端連接成回路,如兩連接端溫度不同,則在回路內(nèi)產(chǎn)生熱電流的物理現(xiàn)象,利用此現(xiàn)象來測量溫度。
熱電阻的測量原理是根據(jù)溫度變化時本身電阻也變化的特性來測量溫度。
接觸式的測試方法中測溫元件直接與被測介質(zhì)接觸,直接測得被測物體的溫度,因而簡單、可靠、測量精度高。
對于其他相關(guān)問題,請點擊右側(cè)在線咨詢,健明迪檢測客服將為您分配對應(yīng)工程師,為您提供更專業(yè)的咨詢。
電子電器溫升試驗標(biāo)準(zhǔn)
1. 連接器件測試標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 13140.1、GB/T34989、IEC 60998-1、IEC61984、EN 60998-1、EN 61984、AS/NZS 60998.1、UL 1977、UL 2238、UL 1059
2. 插頭插座測試標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 2099.1、IEC 60884-1、AS/NZS 60884.1、DIN VDE 0620-1、BS 1363-1、UL 498、UL 1363
3. 器具耦合器測試標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 17465.1、IEC 60320-1、EN 60320-1、AS/NZS 60320.1、UL 60320
4. 軟線組件與電源軟線測試標(biāo)準(zhǔn):
UL817
5. 熔斷器測試標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 13539.1、GB/T 31465、IEC 60269-1、EN 60269-1、ISO 8820、JASO D622、UL 248
6. 電氣設(shè)備開關(guān)測試標(biāo)準(zhǔn):
IEC 60669-1、GB/T 16915.1、EN 60669-1、AS/NZS 60669.1
7. 信息技術(shù)和通訊設(shè)備測試標(biāo)準(zhǔn):
GB 4943.1、IEC 60950-1、EN 60950-1、AS/NZS 60950.1、UL 60950
8. 音視頻設(shè)備測試標(biāo)準(zhǔn):
GB 8898、IEC 60065、EN 60065、AS/NZS 60065、UL 60065
9. 家用電器設(shè)備測試標(biāo)準(zhǔn):
GB 4706.1、IEC 60335-1、EN60335-1、AS/NZS60335.1
10. 照明電器設(shè)備測試標(biāo)準(zhǔn):
GB 7000.1、EN 60598-1、EN 60598-1、IEC 60598-1、AS/NZS 60598.1
電子電器溫升試驗?zāi)康?/strong>
溫升試驗是電子電器產(chǎn)品安全性能的重要試驗之一,用來評價電氣產(chǎn)品的質(zhì)量和電氣安全特性。
電氣產(chǎn)品在正常使用時,由于一些通過大電流元件的發(fā)熱,導(dǎo)致自身的溫升過高,長時間這種狀態(tài)下工作,可能降低絕緣材料性能,從而導(dǎo)致設(shè)備電擊、燙傷或著火危險。
溫升試驗就是用來檢測和規(guī)避這些危險的重要方式。
產(chǎn)品工作時可被接觸到的部分,如果溫度過高可能會造成人身傷害;而且設(shè)備內(nèi)部過高的溫度也會影響產(chǎn)品性能,甚至導(dǎo)致絕緣等級下降或者增加產(chǎn)品機械的不穩(wěn)定性。因此為了保證產(chǎn)品能夠安全穩(wěn)定工作,對產(chǎn)品進(jìn)行溫升測試是非常有必要的。