電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份:試驗方法試驗A.溫 GB/T 2423.1-2008
軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分:低溫試驗 GJB 150.4A-2009
軍用設備環(huán)境試驗方法低溫試驗 GJB 150.4-1986
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份:試驗方法試驗B:高溫 GB/T 2423.2-2008
軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分:高溫試驗 GJB 150.3A-2009
軍用設備環(huán)境試驗方法高溫試驗 GJB 150.3-1986
環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗 GB/T 2423.3-2016
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Db:交變濕熱(12h+12h循環(huán)) GB/T 2423.4-2008
軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第9部分:濕熱試驗 GJB 150.9A-2009
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份:試驗方法試驗Ea和導則:沖擊 GB/T 2423.5-2019
軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第18部分:沖擊試驗 GJB 150.18A-2009程序IⅡ、程序Ⅲ
軍用設備環(huán)境試驗方法沖擊試驗 GJB 150.18-1986試驗V
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份:試驗方法試驗Eb和導則:碰撞 GB/T 2423.6-1995
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份:試驗方法試驗Fc:振動(正弦) GB/T 2423.10-2019
環(huán)境試驗第2部份:試驗方法試驗Fh:寬帶隨機振動和導則 GB/T 2423.56-2018
軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第16部分:振動試驗 GJB 150.16A-2009程序I、Ⅳ
低溫,高溫,濕熱,沖擊,碰撞,振動,恒定加速度,低氣壓,溫度變化,溫度-高度,熱真空,環(huán)境應力篩選,溫度-濕度-振動
檢測周期:7-15個工作日,試驗可加急
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