1、寄樣。(咨詢工程師具體樣品量需求,給我們研究所寄樣)
2、初檢樣品。(收到樣品之后初檢樣品小樣)
3、報(bào)價(jià)。(初檢之后根據(jù)客戶檢測需求以及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度進(jìn)行報(bào)價(jià))
4、簽訂保密協(xié)議。(雙方簽訂保密協(xié)議,進(jìn)行付款)
5、開始實(shí)驗(yàn)。
6、7-15個(gè)工作日完成實(shí)驗(yàn)。
7、后期服務(wù)。
以上是關(guān)于電鏡分析的相關(guān)介紹,如有其他檢測需求可以咨詢實(shí)驗(yàn)室工程師。
1、集體所有制檢測機(jī)構(gòu),國家高新技術(shù)企業(yè)。
2、實(shí)驗(yàn)室分支多,研發(fā)檢測經(jīng)驗(yàn)豐富,支持上門取樣/寄樣檢測。
3、提供36種語言編寫MSDS報(bào)告服務(wù)。
4、初檢樣品,檢測周期短,檢測費(fèi)用低,實(shí)驗(yàn)方案齊全。
5、檢測報(bào)告支持真?zhèn)尾樵儭?/p>
1、銷售使用。(檢測報(bào)告用于銷售產(chǎn)品,讓客戶了解產(chǎn)品)
2、研發(fā)使用。(研發(fā)新的產(chǎn)品,縮短研發(fā)周期,降低研發(fā)成本)
3、投標(biāo)競標(biāo)使用。(檢測報(bào)告用于投標(biāo)競標(biāo)使用,評(píng)分較高)
4、改善產(chǎn)品使用。(通過檢測數(shù)據(jù)來改善自己產(chǎn)品的質(zhì)量,提高產(chǎn)品質(zhì)量)
5、逆向生產(chǎn),模擬生產(chǎn)。(通過檢測成分,實(shí)現(xiàn)逆向生產(chǎn))
6、科研項(xiàng)目,高校論文。(代做高校實(shí)驗(yàn),檢測數(shù)據(jù)用于科研項(xiàng)目或者論文使用)
方法介紹:電鏡分析
檢測周期:7-10個(gè)工作日出具檢測報(bào)告,參考周期
檢測費(fèi)用:初檢樣品,初檢之后根據(jù)客戶檢測需求以及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度進(jìn)行報(bào)價(jià)
儀器 | 配置及技術(shù)參數(shù) | 應(yīng)用及特色項(xiàng)目 |
掃描電鏡 SEM |
主要配置: EDS:布魯克30mm雙探測器(分辨率123eV);EBSD:定向背散射電子探測器;高分辨紅外CCD;氣體二次電子探測器;超高真空系統(tǒng);高真空/低真空/環(huán)境真空系統(tǒng);壓差光鑭;拋光機(jī);切割機(jī);脆斷/冷鑲設(shè)備;打磨機(jī) 技術(shù)參數(shù): 支持環(huán)境模式;分辨率:環(huán)境掃描電子顯微鏡:3-8nm;冷場掃描電子顯微鏡:0.8-1.2nm |
物質(zhì)的形貌0/尺寸分析、膜層分析、EDS元素分析(定性、定量、線分布、面分布、超級(jí)面分布)、活體細(xì)胞觀察、失效分析、金相分析等。廣泛用于材料、化學(xué)、生物、醫(yī)學(xué)、地質(zhì)等各類領(lǐng)域。 |
透射電鏡 TEM |
主要配置: 單球差校正器; EDS:INCA能譜儀離子減薄,激光超薄切片機(jī)。 技術(shù)參數(shù): 分辨率:亞?級(jí) |
物質(zhì)的形貌/尺寸觀察、電子衍射圖片,二維晶格面、明/暗場圖片、元素分析(定性、定量、線分布、面分布、超級(jí)面分布)。廣泛用于材料、化學(xué)、生物、醫(yī)學(xué)、地質(zhì)等各類領(lǐng)域。 |
原子力顯微鏡 AFM |
分辨率:分辨率0.1nm 臺(tái)階0.3nm-500nm |
物質(zhì)的表面形貌成像、鏡片/磁盤分析、表面粗糙度、紋理質(zhì)量 |
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