1、寄樣
2、免費(fèi)的初檢
3、報(bào)價(jià)表
4、兩方確認(rèn),簽署保密協(xié)議書,開使試驗(yàn)
5、7-10個(gè)工作日左右完成試驗(yàn)
6、中后期服務(wù),郵寄檢測(cè)報(bào)告!
產(chǎn)品評(píng)估:成分分析,分析成分比例,改善生產(chǎn)缺陷,提升產(chǎn)品品質(zhì)性能
政府監(jiān)管:工商檢測(cè),市場(chǎng)監(jiān)督,項(xiàng)目投標(biāo)招標(biāo),申請(qǐng)退稅基金等
上市品控:保證自己的產(chǎn)品能順利進(jìn)入各種電商品臺(tái),商超等
打通市場(chǎng):增強(qiáng)企業(yè)的認(rèn)知可信度,擴(kuò)大市場(chǎng)占有率,提高企業(yè)競(jìng)爭(zhēng)力,彰顯產(chǎn)品品質(zhì)
工業(yè)診斷:為您解決工藝、材料中的未知物定性定量分析服務(wù)
DIN ISO 10110-8-2012光學(xué)和光子學(xué) 光學(xué)元件和系統(tǒng)的制圖準(zhǔn)備 第8部分:表面結(jié)構(gòu):粗糙度和波紋
GB/T 1185-2006光學(xué)零件表面疵病
GOST 4.449-1986產(chǎn)品質(zhì)量指標(biāo)體系 檢驗(yàn)粗糙度和表面質(zhì)量的光學(xué)機(jī)械式檢測(cè)儀器 指標(biāo)名稱表
GOST 9847-1979測(cè)量表面粗糙度參數(shù)用光學(xué)儀器 型式和基本參數(shù)
SJ/T 11503-2015碳化硅單晶拋光片表面粗糙度的測(cè)試方法
VDI/VDE 2655-1.1-2008微地貌的光學(xué)測(cè)量 粗糙度測(cè)量基準(zhǔn)顯微鏡和深度調(diào)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)
檢測(cè)樣品:光學(xué)部件,晶片等
檢測(cè)項(xiàng)目:光學(xué)粗糙度測(cè)試
檢測(cè)周期:7-15個(gè)工作日(參考周期)
檢測(cè)項(xiàng)目:光學(xué)粗糙度測(cè)試,檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)參考:SJ/T 11503-2015碳化硅單晶拋光片表面粗糙度的測(cè)試方法。Copyright ? 2023.廣州市健明迪檢測(cè)有限公司 .粵ICP備2022046874號(hào)技術(shù)文章 檢測(cè)服務(wù) 相關(guān)資訊