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光學(xué)粗糙度測(cè)試

健明迪檢測(cè)提供的光學(xué)粗糙度測(cè)試,檢測(cè)項(xiàng)目:光學(xué)粗糙度測(cè)試,檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)參考:SJ/T11503-2015碳化硅單晶拋光片表面粗糙度的測(cè)試方法,具有CMA,CNAS認(rèn)證資質(zhì)。
光學(xué)粗糙度測(cè)試
我們的服務(wù) 光學(xué)粗糙度測(cè)試

檢測(cè)流程

1、寄樣

2、免費(fèi)的初檢

3、報(bào)價(jià)表

4、兩方確認(rèn),簽署保密協(xié)議書,開使試驗(yàn)

5、7-10個(gè)工作日左右完成試驗(yàn)

6、中后期服務(wù),郵寄檢測(cè)報(bào)告!

我們的檢測(cè)有哪些優(yōu)勢(shì)?

產(chǎn)品評(píng)估:成分分析,分析成分比例,改善生產(chǎn)缺陷,提升產(chǎn)品品質(zhì)性能

政府監(jiān)管:工商檢測(cè),市場(chǎng)監(jiān)督,項(xiàng)目投標(biāo)招標(biāo),申請(qǐng)退稅基金等

上市品控:保證自己的產(chǎn)品能順利進(jìn)入各種電商品臺(tái),商超等

打通市場(chǎng):增強(qiáng)企業(yè)的認(rèn)知可信度,擴(kuò)大市場(chǎng)占有率,提高企業(yè)競(jìng)爭(zhēng)力,彰顯產(chǎn)品品質(zhì)

工業(yè)診斷:為您解決工藝、材料中的未知物定性定量分析服務(wù)

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)參考

DIN ISO 10110-8-2012光學(xué)和光子學(xué) 光學(xué)元件和系統(tǒng)的制圖準(zhǔn)備 第8部分:表面結(jié)構(gòu):粗糙度和波紋

GB/T 1185-2006光學(xué)零件表面疵病

GOST 4.449-1986產(chǎn)品質(zhì)量指標(biāo)體系 檢驗(yàn)粗糙度和表面質(zhì)量的光學(xué)機(jī)械式檢測(cè)儀器 指標(biāo)名稱表

GOST 9847-1979測(cè)量表面粗糙度參數(shù)用光學(xué)儀器 型式和基本參數(shù)

SJ/T 11503-2015碳化硅單晶拋光片表面粗糙度的測(cè)試方法

VDI/VDE 2655-1.1-2008微地貌的光學(xué)測(cè)量 粗糙度測(cè)量基準(zhǔn)顯微鏡和深度調(diào)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)

檢測(cè)樣品:光學(xué)部件,晶片等

檢測(cè)項(xiàng)目:光學(xué)粗糙度測(cè)試

檢測(cè)周期:7-15個(gè)工作日(參考周期)

檢測(cè)項(xiàng)目:光學(xué)粗糙度測(cè)試,檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)參考:SJ/T 11503-2015碳化硅單晶拋光片表面粗糙度的測(cè)試方法。
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