晶須試驗(yàn)
檢測流程
1、寄樣
2、免費(fèi)的初檢
3、報(bào)價(jià)表
4、兩方確認(rèn)，簽署保密協(xié)議書，開使試驗(yàn)
5、7-10個(gè)工作日左右完成試驗(yàn)
6、中后期服務(wù)，郵寄檢測報(bào)告!
我們的檢測有哪些優(yōu)勢?
產(chǎn)品評估：成分分析，分析成分比例，改善生產(chǎn)缺陷，提升產(chǎn)品品質(zhì)性能
政府監(jiān)管：工商檢測，市場監(jiān)督，項(xiàng)目投標(biāo)招標(biāo)，申請退稅基金等
上市品控：保證自己的產(chǎn)品能順利進(jìn)入各種電商品臺(tái)，商超等
打通市場：增強(qiáng)企業(yè)的認(rèn)知可信度，擴(kuò)大市場占有率，提高企業(yè)競爭力，彰顯產(chǎn)品品質(zhì)
工業(yè)診斷：為您解決工藝、材料中的未知物定性定量分析服務(wù)
檢測標(biāo)準(zhǔn)參考
CEI EN 60068-2-82-2008環(huán)境試驗(yàn)。第2-82部分:試驗(yàn)。試驗(yàn)Tx:電子和電氣元件的晶須試驗(yàn)方法。第一版;包含Corr國際電工委員會(huì):2009
CEI EN 60512-16-21-2013電子設(shè)備用連接器.試驗(yàn)和測量.第16-21部分:觸點(diǎn)和終端的機(jī)械試驗(yàn).試驗(yàn)16u:通過施加外部機(jī)械應(yīng)力的晶須試驗(yàn)
EN 60068-2-82-2007環(huán)境測試.第2-82部分:試驗(yàn).試驗(yàn)Tx:電子和電氣元件用晶須試驗(yàn)方法
IEC 60068-2-82-2007環(huán)境試驗(yàn) 第2-82部分:試驗(yàn) 試驗(yàn)Tx:電子和電氣元件用晶須試驗(yàn)法
IEC 60512-16-21-2012電子設(shè)備用機(jī)電元件 基本試驗(yàn)程序和測量方法 第16-21部分:接觸件及終端的機(jī)械試驗(yàn) 試驗(yàn)16:由外部機(jī)械應(yīng)力應(yīng)用的晶須試驗(yàn)
JIS C60068-2-82-2009環(huán)境試驗(yàn) 第2-82部分:試驗(yàn) 試驗(yàn)XW1:電子和電氣元件用晶須試驗(yàn)法
檢測樣品：電子和電器元件等
檢測項(xiàng)目：晶須試驗(yàn)
檢測周期：7-15個(gè)工作日(參考周期)
檢測項(xiàng)目：晶須試驗(yàn)，檢測標(biāo)準(zhǔn)參考：IEC 60068-2-82-2007環(huán)境試驗(yàn) 第2-82部分:試驗(yàn) 試驗(yàn)Tx:電子和電氣元件用晶須試驗(yàn)法。健明迪檢測國家高新技術(shù)企業(yè)，檢測資質(zhì)齊全，實(shí)驗(yàn)室儀器先進(jìn)。
