檢測優(yōu)勢

1、初檢樣品小樣，初檢期間不收取任何費(fèi)用。

2、健明迪檢測國家高新技術(shù)企業(yè)。

3、健明迪檢測所出具的食品檢測報(bào)告認(rèn)可，支持掃碼查詢真?zhèn)巍?/p>

4、健明迪檢測多家實(shí)驗(yàn)室分支，支持上門取樣，也支持寄樣檢測。

5、檢測周期全，檢測費(fèi)用低，實(shí)驗(yàn)方案齊全。

檢測流程

1、寄樣。(咨詢工程師提交檢測需求，然后給我們郵寄樣品)

2、初檢樣品。(收到樣品之后，初檢樣品，制定詳細(xì)的實(shí)驗(yàn)方案)

3、報(bào)價(jià)。(初檢之后，根據(jù)實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度以及客戶檢測需求進(jìn)行報(bào)價(jià))

4、雙方確定，簽訂保密協(xié)議，開始實(shí)驗(yàn)。(嚴(yán)格保護(hù)客戶隱私)

5、結(jié)束實(shí)驗(yàn)。(7-10個(gè)工作日完成實(shí)驗(yàn))

6、郵寄檢測報(bào)告，后期服務(wù)。

檢測標(biāo)準(zhǔn)參考

BS EN 60444-2-1997石英晶體元件參數(shù)的測定.第2部分:用相位偏離法測量石英晶體單元的動(dòng)態(tài)電容

DIN EN 60444-2-1997在π型網(wǎng)絡(luò)中采用零相位技術(shù)測量石英晶體元件的參數(shù).第2部分:測量石英晶體元件動(dòng)態(tài)電容的相位補(bǔ)償法

GB/T 22319.8-2008石英晶體元件參數(shù)的測量 第8部分：表面貼裝石英晶體元件用測量夾具

IEC 60444-2-1980用π型網(wǎng)絡(luò)零相位技術(shù)測量石英晶體元件參數(shù) 第2部分:測量石英晶體元件動(dòng)態(tài)電容的相位偏置法

SJ/Z 9154.2-1987用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件參數(shù) 第二部分：測量石英晶體元件動(dòng)態(tài)電容的相位偏置法